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• FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡隔振方案 發布時間:2021-01-03

  FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡隔振方案ArisMD300主動隔振系統背 景：應用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡成像檢測，是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺。使用單位：廈門稀土材料研究所地 點：福建省廈門市集美區兌山西珩路258號儀器型號：FEI Apreo S LoVac隔振方案：ArisMD300主動隔振系統FEI Apr...

• Hisilicon半導體光電檢測設備隔振方案 發布時間:2021-01-02

  Hisilicon半導體光電檢測設備隔振方案SOTOMD300-M被動隔振系統背景：半導體光電測試應用使用單位：深圳市海思半導體有限公司地點：廣東省深圳市龍崗區坂田華為基地F區設備：Hisilicon半導體光電檢測設備隔振方案：SOTOMD300-MHisilicon半導體光電檢測設備SOTOMD300-M被動隔振系統安裝應用圖...

• TEL SMUR-P8晶圓測試儀隔振方案 發布時間:2021-01-02

  TEL SMUR-P8晶圓測試儀隔振方案ARISMD300主動隔振系統背景：東京電子TEL SMUR-P8晶圓測試儀，半導體晶圓針測應用使用單位：昆明京東方顯示技術有限公司地點：云南省昆明市官渡區昆明京東方顯示技術有限公司設備型號：TEL SMUR-P8隔振方案：ARISMD300主動隔振系統TEL東京電子Wafer Prober晶圓測試儀ARISMD300主動隔振系統安裝應用案例...

• 賽默飛（原FEI）Talos F200S TEM隔振方案 發布時間:2021-01-02

  賽默飛（原FEI）Talos F200S TEM隔振方案ARISMD主動隔振系統背 景：Talos F200S 材料科學應用FEI Talos F200系列場發射透射電子顯微鏡融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (STEM) 和 TEM 成像功能與行業的能量色散 X 射線光譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。使用單位：中國科學院長春光學精密機械與物理研...

• 自動化影像掃描及圖像分析系統隔震技術_SotoTT減震臺/防震臺 發布時間:2020-02-28

  自動化圖像掃面及圖像分析系統隔震技術_SotoTT減震臺/防震臺 BioView掃描系統能基于探針的顏色及樣式、信號強度、大小及形狀來幫助病理醫生觀察，分類和計數感興趣的細胞，為細胞遺傳、腫瘤和病理實驗室提供圖像分析解決方案。 其Solo-Touch工作站是為在個人觸摸屏顯示器的應用而優化設計的，并且SoloWeb提供了在網絡環境中進行閱片回顧和分析的解決方案。 BioView在實體瘤...

• 減震臺：負剛度低頻隔振技術 發布時間:2018-09-19

  減震臺：負剛度低頻隔振技術圖1:減震臺在小型AFM上的運用圖2:減震臺在激光電子領域的運用負剛度隔振臺工作原理 Minusk負剛度隔振臺在低頻隔振采用了革命性的設計理念。垂直運動隔振由承載負荷的剛性彈簧結合負剛度機構NSM提供。在不影響彈簧靜載荷支撐能力的情況下，凈垂直剛度很低。與垂直運動隔振器串聯連接的梁柱提供水平運動隔振。梁柱的水平剛度隨著梁柱效應的減小而減小。（梁柱表現為彈簧結合...

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